Serie metrología
La tomografía por rayos X ha revolucionado tanto la investigación como el control de calidad industrial al permitir análisis tridimensionales completos —tanto internos como externos— en un único escaneo y, lo que es más importante, de forma no destructiva (NDT).
Para las mediciones dimensionales, los métodos más tradicionales han dominado durante mucho tiempo el sector: máquinas de medición por coordenadas (CMM) de contacto, escáneres ópticos 3D, sistemas de visión y brazos de medición portátiles.
Cada uno destaca en su propio ámbito: las CMM por su alta precisión punto a punto, los escáneres ópticos por su rapidez en grandes superficies, los sistemas de visión para mediciones 2D y los brazos portátiles por su flexibilidad en entornos in situ. Estos métodos siguen siendo relevantes y lo seguirán siendo para muchas aplicaciones. Sin embargo, todos comparten una limitación común: la imposibilidad de acceder a geometrías internas sin recurrir al corte o al desmontaje.
La tomografía CT resuelve este desafío al proporcionar una visión volumétrica completa, preservando al mismo tiempo la integridad de la pieza. Reconstruye el volumen 3D completo y permite la medición simultánea de geometrías internas y externas, espesores de pared, tolerancias geométricas y dimensionales (GD&T) y desviaciones entre el CAD y la pieza real, con una densidad de datos inalcanzable mediante los métodos tradicionales.
Sin embargo, convertir esta capacidad tecnológica en resultados metrológicos fiables requiere algo más que un simple escáner CT. Ahí es donde entra en juego la Serie Metrología: sistemas de tomografía industrial diseñados específicamente para la metrología dimensional de alta precisión. Certificados conforme a la norma VDI/VDE 2630, con un error máximo permitido (MPE) claramente definido y un rendimiento verificado, estas plataformas garantizan la trazabilidad, la repetibilidad y la comparabilidad de los resultados a lo largo del tiempo, proporcionando evidencias metrológicas sólidas y auditables.
Disponibles en configuraciones EasyTom S Metrología (para piezas pequeñas y medianas) y EasyTom L Metrología (para piezas grandes y aplicaciones de alta flexibilidad), estos sistemas combinan la potencia de la tomografía 3D con el rigor de los equipos de metrología industrial. Esta solución responde a las necesidades de los equipos de I+D, industrialización y calidad: decisiones más precisas, ciclos de desarrollo más cortos e inspecciones en serie fiables.
Sistema de regulación térmica interna
Amortiguadores
Encoder lineales
Compatible con software de metrología
Exportación STL avanzada
Mecánica de alta precisión: Base de granito, amortiguación antivibraciones, encoders lineales y control térmico interno.
Diseño ergonómico: Punto de carga rebajado, ajustes con puerta abierta, hasta 9 ejes motorizados y distancia tubo‑detector motorizada.
Bajo mantenimiento: Diseño robusto, tubos sellados y acceso sencillo para mantenimiento.
Operación sencilla: Plato de centrado motorizado para cargas de hasta 80 kg. Cambio de tubo y de detector (Flat Panel / LineScan) en menos de 1 minuto, sin calibración.
Alta eficiencia: Escaneos de alta velocidad, flujo automatizado de escaneo a análisis, cargador de muestras para mayor autonomía y puerta motorizada para carga robótica.
Trazabilidad y rendimiento garantizados a lo largo del tiempo
Calibración en fábrica
Antes de la entrega, cada sistema de la Serie Metrología se somete a una doble calibración en fábrica: corrección de la distorsión del detector y alineación ultrafina. Esta calibración garantiza el cumplimiento de la norma VDI/VDE 2630-1.3 desde la instalación. Con cada sistema se proporciona un informe BEP (Best Equipment Performance) que documenta los ensayos de rendimiento.
Patrón ball-bar certificado
Se incluye con cada sistema un patrón ball-bar certificado de 100 mm, que permite la corrección automática diaria de escala mediante el plug-in de error de escala. Este patrón garantiza la trazabilidad a institutos nacionales (PTB, NIST, LNE) y permite la verificación periódica del rendimiento metrológico del sistema.
Soporte dedicado
El programa de soporte dedicado incluye la verificación del rendimiento anual (o con mayor frecuencia si es necesario). Si se detecta alguna desviación, nuestros equipos realizan una recalibración in situ para mantener el cumplimiento de la norma VDI/VDE 2630-1.3 a lo largo de todo el ciclo de vida del sistema.
Cumplimiento metrológico garantizado
Gracias a la calibración inicial en fábrica, las herramientas de verificación diaria (ball-bar) y el programa de mantenimiento anual, los sistemas de la Serie Metrología mantienen el cumplimiento de las normas metrológicas VDI/VDE 2630-1.3 y ASME B89.4.23 a lo largo del tiempo.
Aplicaciones
La tomografía computarizada es una tecnología potente que te permite inspeccionar componentes de una manera fácil. La única que te brinda la posibilidad de ver el interior sin tener que cortar o destruir tu muestra. La única limitación se encuentra en la densidad de las piezas.
Se pueden realizar muchos tipos de aplicaciones utilizando CT, desde problemas industriales típicos como la detección de defectos en tus muestras (huecos, grietas, análisis de porosidad) hasta metrología en superficies externas e internas de muestras complejas. Sectores diversos: automoción, aeronáutico, plástico, electrónica (ensamblajes), académico, investigación y médico.
Solución personalizada SK/solutions
Te acompañamos a lo largo de toda la vida del proyecto: definición del proyecto, instalación, formación, programación, soporte al usuario, actualización de software, asistencia técnica, calibración y mantenimiento anual.
Especificaciones técnicas
EasyTom L 230
detector 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50
detector 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50
EasyTom L 300
detector 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50
detector 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50
EasyTom L 450
detector 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50
EasyTom S 150
detector 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50
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