Série de metrologia

Sistemas de tomografia computadorizada com precisão dimensional certificada.
Medição tridimensional não destrutiva de características internas e externas, conforme a VDI/VDE.

A tomografia por raios X revolucionou tanto a investigação como o controlo de qualidade industrial ao permitir análises tridimensionais completas — tanto internas como externas — numa única aquisição e, mais importante, de forma não destrutiva (NDT).

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Para as medições dimensionais, os métodos mais tradicionais dominaram durante muito tempo o setor: máquinas de medição por coordenadas (CMM) de contacto, scanners óticos 3D, sistemas de visão e braços de medição portáteis.

Cada um destaca-se no seu próprio âmbito: as CMM pela sua elevada precisão ponto a ponto, os scanners óticos pela sua rapidez em grandes superfícies, os sistemas de visão para medições 2D e os braços portáteis pela sua flexibilidade em ambientes in situ. Estes métodos continuam a ser relevantes e continuarão a sê-lo para muitas aplicações. No entanto, todos partilham uma limitação comum: a impossibilidade de aceder a geometrias internas sem recorrer ao corte ou à desmontagem.

A tomografia CT resolve este desafio ao proporcionar uma visão volumétrica completa, preservando simultaneamente a integridade da peça. Reconstrói o volume 3D completo e permite a medição simultânea de geometrias internas e externas, espessuras de parede, tolerâncias geométricas e dimensionais (GD&T) e desvios entre o CAD e a peça real, com uma densidade de dados inatingível pelos métodos tradicionais.

No entanto, transformar esta capacidade tecnológica em resultados metrológicos fiáveis requer mais do que um simples scanner CT. É aqui que entra em jogo a Série de Metrologia: sistemas de tomografia industrial especificamente concebidos para metrologia dimensional de alta precisão. Certificados de acordo com a norma VDI/VDE 2630, com um erro máximo permitido (MPE) claramente definido e um desempenho verificado, estas plataformas garantem a rastreabilidade, a repetibilidade e a comparabilidade dos resultados ao longo do tempo, fornecendo evidências metrológicas sólidas e auditáveis.

Disponíveis em configurações EasyTom S Metrologia (para peças pequenas e médias) e EasyTom L Metrologia (para peças grandes e aplicações de elevada flexibilidade), estes sistemas combinam a potência da tomografia 3D com o rigor dos equipamentos de metrologia industrial. Esta solução responde às necessidades das equipas de I&D, industrialização e qualidade: decisões mais precisas, ciclos de desenvolvimento mais curtos e inspeções em série fiáveis.

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Sistema de regulação térmica interna

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Amortecedores

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Encoders lineares

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Compatível com software de metrologia

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Exportação STL avançada

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Mecânica de alta precisão: Base em granito, amortecimento antivibrações, encoders lineares e controlo térmico interno..

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Design ergonómico: Ponto de carga rebaixado, ajustes com a porta aberta, até 9 eixos motorizados e distância tubo‑detetor motorizada.

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Baixa manutenção: Design robusto, tubos selados e acesso fácil para manutenção.

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Operação simples: Prato de centragem motorizado para cargas até 80 kg. Troca de tubo e de detetor (Flat Panel / LineScan) em menos de 1 minuto, sem necessidade de calibração.

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Alta eficiência: Digitalizações de alta velocidade, fluxo automatizado do scan para a análise, carregador de amostras para maior autonomia e porta motorizada para carga robótica.

Rastreabilidade e desempenho garantidos ao longo do tempo

Calibração em fábrica

Antes da entrega, cada sistema da Série de Metrologia é submetido a uma dupla calibração em fábrica: correção da distorção do detetor e alinhamento ultrafino. Esta calibração garante o cumprimento da norma VDI/VDE 2630-1.3 desde a instalação. Com cada sistema é fornecido um relatório BEP (Best Equipment Performance) que documenta os ensaios de desempenho.

Padrão ball-bar certificado

É incluído com cada sistema um padrão ball-bar certificado de 100 mm, que permite a correção automática diária da escala através do plug-in de erro de escala. Este padrão garante a rastreabilidade a institutos nacionais (PTB, NIST, LNE) e permite a verificação periódica do desempenho metrológico do sistema.

Suporte dedicado

O programa de suporte dedicado inclui a verificação anual do desempenho (ou com maior frequência, se necessário). Se for detetado algum desvio, as nossas equipas realizam uma recalibração in situ para manter o cumprimento da norma VDI/VDE 2630-1.3 ao longo de todo o ciclo de vida do sistema.

Cumprimento metrológico garantido

Graças à calibração inicial em fábrica, às ferramentas de verificação diária (ball-bar) e ao programa anual de manutenção, os sistemas da Série de Metrologia mantêm o cumprimento das normas metrológicas VDI/VDE 2630-1.3 e ASME B89.4.23 ao longo do tempo.

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Aplicações

A tomografía computorizada é uma tecnología potente que permite inspecionar componentes de uma maneira fácil. A única que te brinda com a possibilidade de ver o interior sem ter que cortar ou destruir a amostra. A única limitação que se encontra é a densidade das peças.

Podem-se realizar muitos tipos de aplicações utilizando CT, desde problemas industriais típicos como a deteção de defeitos nas amostras (ocos, gretas, análises de porosidade) até metrología em superficies externas e internas de amostras complexas. Sectores diversos: automóvel, aeronáutico, plástico, electrónica (montagens), académico, investigação e médico.

Solução personalizada SK/soluções

Acompanharemos ao longo de toda a vida do projeto: definição do projeto, instalação, formação, programação, suporte ao utilizador, actualização do software, assistência técnica, calibração e manutenção anual.

Especificações técnicas

EasyTom L 230

detetor 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50

detetor 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50

EasyTom L 300

detetor 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50

detetor 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 6 µm + L/50

EasyTom L 450

detetor 43x43: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50

EasyTom S 150

detetor 25x32: VDI/VDE 2630-1.3 MPE SD: 5.5 µm + L/50

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